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扫描电镜sem在线播放_扫描电镜sem全称(2024年12月免费观看)

内容来源：麦吉窗影视所属栏目：导读更新日期：2024-12-03

扫描电镜sem

扫描电镜SEM的10大神奇应用𐟌Ÿ 扫描电镜（SEM）是一种多功能仪器，具有许多优越的性能，广泛应用于各种领域。以下是SEM的10大应用： 𐟔젨炥”Ÿ物试样：由于电子照射对试样的损伤和污染程度很小，SEM特别适合观察生物试样。 𐟔젨炥Žš试样：在观察厚试样时，SEM能获得高分辨率和最真实的形貌。 𐟔젨炥𚳧𑳦料：SEM具有很高的分辨率，可以观察组成材料的颗粒或微晶尺寸在0.1-100nm范围内，在保持表面洁净的条件下加压成型而得到的固体材料。 𐟔젨炥料断口：SEM景深大，图像具有立体感，能够从断口形貌呈现材料断裂的本质，在材料断裂原因的分析、事故原因的分析以及工艺合理性的判定等方面是一个强有力的手段。 𐟔젨炥䧨 𗯼šSEM能够直接观察直径100mm，高50mm，或更大尺寸的试样，对试样的形状没有任何限制，粗糙表面也能观察，这便免除了制备样品的麻烦，而且能真实观察试样本身物质成分不同的衬度（背散射电子象）。 𐟔젥Š覀观察：如果在样品室内装有加热、冷却、弯曲、拉伸和离子刻蚀等附件，则可以观察相变、断烈等动态的变化过程。 𐟔젥䧨熥œ𚨧‚察：SEM在大视场、低放大倍数下观察样品，这对刑事侦察和考古等领域非常有用。 𐟔젨🞧𛭨炥𜚓EM的放大倍数范围很宽（从5到20万倍连续可调），且一次聚焦好后即可从高倍到低倍、从低倍到高倍连续观察，不用重新聚焦，这对进行分析特别方便。 𐟔젦ˆ分和元素分析：通过电子通道花样进行结晶学分析，选区尺寸可以从10到3，除了观察表面形貌外还能进行成分和元素的分析。 𐟔젤𛎨 𗨡詝⥽⨲Œ获得多方面资料：由于扫描电子象不是同时记录的，它是分解为近百万个逐次依此记录构成的，这使得SEM能从试样表面形貌获得多方面资料。扫描电镜SEM是一种多功能、高性能的仪器，广泛应用于各种领域的研究和分析。

如何制备高质量的扫描电镜和透射电镜样品 ### 扫描电镜SEM 𐟔 样品要求固体样品，无毒、无放射性、无污染、无磁性、无水，成分稳定。常用方法块状样品低倍率观察（<5万倍）：使用导电胶带。高倍率观察（>5万倍）：使用液体导电胶。粉末样品可以直接固定在导电胶带或液体导电胶上。注意：如果是导电胶带，揭下来的剥离纸要倒着放，撒完样品后再用剥离纸干净的面压一下，固定的才会牢固。如果是液体导电胶，最好用水溶性的，不容易和样品发生反应。撒样品的时间点控制在导电胶快干的时候，才能使样品达到半浸没状态。也可以用分散法。截面样品如果是硅片或玻璃，需要用到玻璃刀。注意：用玻璃刀划的时候要让开观察的面，可以上面和下面各划一下，然后再掰。对于薄膜类样品，可以用液氨粹断。透射电镜TEM 𐟔슦 𗥓要求样品被观察区对入射电子必须是“透明”的。电子穿透样品的能力与其本身能量及样品所含元素的原子序数有关。一般透射电镜样品的厚度在100nm左右。对于高分辨电镜样品，厚度必须小于10nm。样品必须牢固，以便能经受电子束的轰击，并防止装卸过程中的机械振动而损坏。对于易碎的块状样品，必须将其粘在铜网上，铜网对样品起着加固作用。对于粉末样品，可设法将其分散在附有支持膜（如火棉胶膜、微栅膜、超薄炭膜）的铜网上，铜网及火棉胶膜对粉末样品起支撑、承载和黏附作用。生物样品则必须先固定、硬化，然后切成超薄切片，再置于覆有支持膜的载网上。样品必须具有导电性。对于非导电样品，应在表面喷一层很薄的炭膜，以防止电荷积累而影响观察。防止样品被污染。在制样过程中，样品的超微结构必须得到完好的保存。应严格防止样品被污染和样品结构及性质的改变（如相变、氧化等）。通过这些步骤，你可以制备出高质量的扫描电镜和透射电镜样品，从而获得更准确的观察结果。

一文搞懂扫描电镜（SEM）的核心知识如果你在材料科学领域混，那你一定得知道扫描电子显微镜（SEM）。这东西可是科学家们的得力助手，能帮他们深入剖析材料的微观结构和性能。今天，我就带你一探究竟，看看SEM到底有多厉害。一、SEM是什么？扫描电子显微镜，简称SEM，诞生于1965年左右。它主要是通过接收二次电子、背散射电子等信号，来观察样品表面的微观形貌。SEM的分辨率介于透射电镜和光学显微镜之间，是材料科学研究领域不可或缺的分析工具。 SEM的强大之处不仅在于形貌观察，还能通过与X射线能谱仪（EDS）等附件结合，分析材料的显微组织、成分以及织构等信息。更厉害的是，配合加热、拉伸等原位测试装置，SEM还能动态分析材料的性能。二、SEM设备简介举个例子吧，比如Zeiss Sigma 300场发射扫描电子显微镜，这可是个大家伙。它配套的能谱仪是Bruker 6130 EDS系统，简直是黄金搭档。三、常见问题解答粉末样品怎么选基底？对于那些分散性好的样品，直接放在导电胶上观察就行。如果样品容易团聚，建议先通过溶剂超声分散后滴膜测试。基底方面，硅片或铜片都可以，不过铜片导电性更好。如果要进行能谱分析，最好选那些不会干扰样品信息的基底。如何制备SEM截面样品？脆性材料，比如硅片或镀膜玻璃片，可以直接掰断或敲断。高分子聚合物等韧性材料则需要特殊处理，比如液氮脆断、离子切割或冷冻超薄切片等方法，以获得平整且无加工应变的截面。不导电样品的EDS分析中Au峰怎么处理？如果在EDS分析中出现Au峰干扰，可以在原始数据中将其去除。如果只是进行EDS分析，可以考虑不喷金处理。样品超声分散的最佳时间是多久？超声分散时间因样品而异，需要根据样品的团聚程度来确定合适的超声时间。为什么SEM-EDS测试轻元素时不准确？轻元素（如Be、B、C、N、O和F等）的特征X射线能量较低，容易被基底吸收，导致定量分析困难。因此，在测试这些元素时，需要特别注意并采取相应的校正措施以提高准确性。希望这篇文章能帮你更好地理解扫描电镜（SEM），下次看到这篇文章的时候，你就能自信满满地说出这些知识点啦！𐟒ꀀ

扫描电镜常见问题解答：原理篇（一） 𐟔 什么是PE？ PE是Primary Electron的缩写，中文可以直接翻译为“入射电子”。简单来说，它指的是从灯丝发射出来的电子。背散射电子的本质也是“一次电子”，这些电子在入射到样品后，会向后反射回来。 𐟔 什么是放大倍数？放大倍数是指物体在显示器（或底片）上显示的尺寸与实际尺寸的比例。不同的电镜，即使是相同的放大倍数，显示的图像中标的尺寸也可能不一致。这是因为不同的电镜可能采用不同的放大倍数定义。但无论是在屏幕上还是底片上，测量出来的尺寸应该是一致的。 𐟔 扫描电镜SEM主要产生哪些电子？扫描电镜SEM在与样品相互作用时，会产生不同类型的电子、光子或辐射。用于成像的主要有两种电子：背散射电子（BSE）和二次电子（SE）。背散射电子来自入射电子束，这些电子与样品发生弹性碰撞，部分反弹回来。而二次电子则来自样品原子，它们是入射电子与样品发生非弹性碰撞时产生的。 𐟔 BSE和SE有什么区别？ BSE主要来自样品的较深层区域，而SE则主要来自样品的表层区域。因此，BSE和SE代表了不同的信息。BSE图像对原子序数差异非常敏感，材料的原子序数越大，在图像中就越亮。 𐟔 SEM是如何探测电子的？ BSE和SE分别由不同类型的探测器探测。散射电子探测器用于探测BSE信号，位于样品正上方，并环绕电子束分布，这样可以收集到最大量的BSE。而探测SE时，主要使用E-T探测器。它有一个内置于法拉第圆筒的闪烁体，圆筒带正电可以吸引SE。闪烁体用于加速电子，并将它们转换为光子。这些光子进入光电倍增管，并得到进一步放大。SE探测器以一定角度放置在电子腔室的侧面，这样可以提高SE的探测效率。这些SE可以用来生成样品的二次电子图像，并展示在电脑的显示器上。

扫描电镜的制样与拍摄技巧分享之 Q：扫描电镜 SEM 主要产⽣了哪些电⼦？ A：电⼦与样品的相互作⽤会产⽣不同种类的电⼦、光⼦或辐射。对于扫描电镜SEM 来说，⽤于成像的两类电⼦分别是背散射电⼦ (BSE) 和⼆次电⼦ (SE)。背散射电⼦来⾃于⼊射电⼦束，这些电⼦与样品发⽣弹性碰撞，其中⼀部分反弹回来，这就是背散射电⼦。另⼀⽅⾯，⼆次电⼦则来⾃于样品原⼦：它们是⼊射电⼦与样品发⽣⾮弹性碰撞所产⽣的。 BSE 来⾃于样品的较深层区域，⽽ SE 则产⽣于样品的表⾯区域。因此，BSE 和SE 代表不同的信息。BSE 图像对原⼦序数差异⾮常敏感：材料的原⼦序数越⼤，对应在图像中就越亮。

透射电镜（TEM）基础与CCD相机详解透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM），是一种将加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞后改变方向，从而产生立体角散射的显微镜。散射角的大小与样品的密度和厚度有关，因此可以形成明暗不同的影像，经过放大和聚焦后在成像器件（如荧光屏、胶片以及感光耦合组件）上显示出来。 TEM系统组件：电子枪：发射电子聚光镜：将电子束聚集成平行光源样品杆：装载需要观察的样品物镜：聚焦成像，一次放大中间镜：二次放大投影镜：三次放大荧光屏：将电子信号转化为可见光，供操作者观察 CCD相机：将光学影像转化为数字信号明场成像和暗场成像：明场成像：让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法。暗场成像：使衍射束通过物镜光阑而把透射束挡掉得到图像衬度的方法。 TEM和SEM的区别：扫描电镜（SEM）收集二次电子和背散射电子的信息，而透射电镜（TEM）收集透射电子的信息。 SEM制样对样品的厚度没有特殊要求，而TEM需要样品足够薄，因为它是收集透射过样品的电子束。衍射衬度和质厚衬度：衍射衬度：样品在进行透镜观察时，由于各处晶体取向不同或晶体结构不同，满足布拉格方程的程度不同，从而有不同的衍射效果，形成一个随位置而变化的衍射振幅分布，称为衍射衬度。质厚衬度：样品不同微区存在原子序数和厚度的差异造成的。通过这些组件和成像方法，TEM能够提供高分辨率的样品图像，帮助科研人员更好地理解材料的微观结构。

扫描电镜（SEM）常见问题解答 𐟓Œ 问题一：导电性差如何影响图像？导电性差的样品在扫描电镜（SEM）下可能会出现一系列问题，如荷电效应、图像局部异常明亮或暗淡、表面磨平、图像畸形和漂移等。这些问题主要是由于自由电子在样品局部累积形成静电场，影响了电子信息的正常溢出。通常可以通过喷金（碳）或导电染色来增强样品的导电性，降低加速电压，或在荷电效应产生前快速观察。 𐟓Œ 问题二：喷Au/喷Pt/喷C的具体应用场景是哪些？喷金（Au）、喷铂（Pt）或喷碳（C）主要用于增加样品的导电性，同时还能增加二次电子和背散射电子的产生，从而提高信噪比，减少电子束的穿透。C靶材特别适用于EDS、EBSD和WDS等成分分析。 𐟓Œ 问题三：磁性粉末如何消磁？对于磁性粉末样品，如果使用Zeise场发射SEM电镜，通常不需要消磁，可以参照常规粉末样品的制备方法。对于块状强磁性材料，可以通过加热或外加磁场进行消磁，市场上也有专门的消磁器可供使用。 𐟓Œ 问题四：什么样的样品适合液氮脆断？液氮脆断法主要用于高分子材料的断面观察。由于高分子材料具有一定的韧性，直接剪断的断面不够清晰，但放入液氮中可以实现脆性断裂。 𐟓Œ 问题五：什么是离子束损伤？部分样品不耐电子束，拍摄时可能会造成拍摄部位破裂和局部漂移。为了避免这种现象，可以降低加速电压及减小电子束流，加厚喷镀金属膜，并在拍摄时快速选定要拍摄的部位，较短时间内聚焦拍摄。 𐟓Œ 问题六：如何去除SEM图片中的电子束黑斑？电子束黑斑可能是由于样品较脏，发生了积碳。建议制好的样品注意保存环境或及时测试。 𐟓Œ 问题七：为什么同一个样品在不同仪器上拍摄效果不同？如果拍照参数设置相近，效果不会有太大不同。不同仪器在拍摄时，参数（探头、电压、束流等）设置不同，具体哪些参数的影响需要针对拍摄结果来分析。 𐟓Œ 问题八：二次电子与加速电压的关系加速电压越高，分辨率和信噪比通常更好；但若只考虑电压，电压越小，图像越清晰，特别是对于有表面细节结构的样品，在较低电压下可以看到样品的表面细节。

安全把控，仅做电化学性能检测已不能满足！要从源头的金属异物管控做起扫描电镜（SEM）在锂电池行业中对清洁度的监控和分析具有重要意义。传统光学显微镜目前应用广泛，但是只能区分金属和非金属，但具体是哪类金属则无从得知，也会造成金属与非金属的误识别，对小尺寸颗粒的统计准确性较低，无法分析颗粒的可能来源。因此，这就需要借助扫描电镜。 [基木鱼链接]

SEM扫描电镜检测全解析，你知道多少？ 𐟌Ÿ SEM扫描电镜分析检测，你了解多少？清析检测为你揭秘！ 𐟔 检测范围广泛：表面、断面、薄膜、金属、陶瓷、聚合物、纤维、生物材料、晶体结构、晶粒尺寸、纤维结构等，无所不包！ 𐟔젦〦𕋩ṧ›𐥯Œ：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、粒径分布分析、粗糙度、表面形貌观察、微观结构分析、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等，一应俱全！ 𐟓š 检测标准精选： ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定 ISO 16000-27:2014 室内空气. 第27部分: 采用SEM(扫描电子显微镜检查法) (直接方法)对表面纤维落尘的测定 NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 室内空气. 第27部分: 采用SEM (扫描电子显微镜检查法) (直接方法) 对表面纤维落尘的测定 DIN ISO 16000-27:2014 室内空气. 第27部分: 采用SEM (扫描电子显微镜检查法) (直接方法) 对表面纤维落尘的测定 (ISO 16000-27-2014) ISO 21466:2019 微束分析.扫描电子显微镜.用CD-SEM评定临界尺寸的方法 JY/T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则 ASTM F1372-93(2020 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜（SEM）的标准测试方法 𐟔 想要了解更多关于SEM扫描电镜分析检测的信息，或者有任何疑问，欢迎随时咨询！我们期待与你的交流，共同探索更多未知的奥秘！

扫描电镜是用来测什么的？#扫描电子显微镜# （SEM）是一种高分辨率的成像设备，用于观察样品表面结构和组成。通过将电子束聚焦在样品表面，SEM能够生成表面形貌的三维图像，展示出细微的表面细节和纹理，分辨率可达纳米级。SEM在材料科学、生命科学、电子工业等领域广泛应用，能测量样品的表面形貌、颗粒大小、晶体结构等微观特性，甚至通过附加的能谱仪器进行元素成分分析。这使得SEM成为分析材料微观结构、检测产品缺陷及研究生物样品表面形态的理想工具，为科研、工业检测和产品开发提供了重要的支持。#台式扫描电镜#

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